مطالعه ساختاری لایه های نازک PZT/YBCO به وسیله XRD و AES

نویسنده

دانشگاه فردوسی مشهد

چکیده

برای ساخت یک قطعه الکترونی لایه های نازکی از ماده ابررسانای YBCOTBa2CuO7-x و (PZT) Pb(Zr0.52Ti0.48)O3 به روش تبخیر لیزری رشد داده شده. کیفیت این لایه ها از نظر ساختاری و نیز کمیت ...

کلیدواژه‌ها


عنوان مقاله [English]

Structural study of Heterostructure PZT/YBCO by (XRD) and (AES)

چکیده [English]

Thin films of superconductor YBaCuO(YBCO)
and Pb(ZrTi)O(PZT) is grown by laser ablation technique
to make an electronic device. The quality and the structure
of the films is studied by X-ray diffraction (XRD) and
Auger Electron Spectroscopy (AES). A quantitative analysis
of the films is also deduced from AES study. Analysis of the
films show that the YBCO is grown in (001) and PZT in
(100) direction. From this study we also conclude that laser
ablation technique is a proper method for thin film
production.

کلیدواژه‌ها [English]

  • thin films
  • Diffraction
  • Feffoelectric